===== 입찰공고문.hwp =====
입 찰 공 고
1. 입찰에 부치는 사항
가. 입찰명: 전기화학 주사탐침 현미경 장비 임차
나. 계약기간: 2026년 10월 15일부터 2027년 2월 28일까지(약5개월)
다. 사업예산: 금99,000,000원(부가세, 설치비 포함)
라. 입찰방법: 제한경쟁입찰, 규격·가격 동시
(제시한 입찰참가자격을 갖춘 업체 중 규격을 충족하고 예정가격 이하 최저가를 제시한 업체 낙찰)
마. 임차 품목 및 수량: 전기화학 주사탐침 현미경 장비, 1대
* 세부사항은 과업지시서 참고 2. 입찰일정 구분 일시 장소 비고 입찰참가신청서 제출 및 투찰 마감 2026.09.16.(수) 10:00 나라장터 전자입찰 입찰(개찰) 2026.09.18.(금) 11:00 나라장터 전자입찰
※ 가격입찰 서류 접수는 나라장터(https://www.g2b.go.kr/) 사이트를 통해 제출하되 규격입찰서 및 규격증빙 서류는 본교 산학협력단 입찰·계약담당자 이메일([email protected])로도 제출하여야 함
3. 입찰참가자격
가. 「국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률」 시행령 제12조 및 동법 시행규칙 제14조에 의한 경쟁입찰자격을 갖춘 자
나. 과거 본교와의 계약 수행에 있어서 부정당업체로 지정된 이력이 없는 업체
다. 입찰공고일 전일부터 입찰일(낙찰자의 경우 계약체결일)까지 주된 영업소 소재지가 서울 및 경기도에 있는 업체(필수)
라. 공고일 기준 2년 내 장비 임차 또는 판매 실적 3천만 원 이상인 업체
마. 제조사 물품공급 확약서(정품공급확약서) 또는 기술지원 확약서 첨부가 가능한 업체
바. 입찰공고일 현재 청산·합병·매각 등 정리절차 중이거나 계획 중인 업체 및 법원에 화의 또는 법정관리를 신청 중인 업체는 입찰에 참가할 수 없음
4. 입찰참가신청서류: 사본인 경우 원본대조필인 要
가. 입찰참가신청서 나. 사업자등록증 사본
다. 법인등기부등본(법인인 경우), 주민등록등본(개인인 경우)
라. 인감증명서, 사용인감계(사용인감 지참) 마. 입찰보증보험증권 바. 국세 및 지방세 완납증명서 사. 실적증명서 아. 견적서(산출내역서)
자. 정품공급확인서 / 기술지원확약서 / 제조사증명서
5. 규격확인서류: 사본인 경우 원본대조필인 要
가. 입찰자는 각 평가항목에 대하여 요구규격 충족 여부를 확인할 수 있는 자료를 제출하여야 한다.
나. 제출 자료: 해당 장비의 제조사, 모델명 및 요구규격에 대응하는 사양을 명확히 표시
1) 장비 규격서 : 과업지시서 요구규격과 입찰 장비 규격의 일치 여부
2) 제조사 공식 사양서 또는 카탈로그 : 정량적 요구규격 및 기능 확인
3) 장비 매뉴얼 등 기술자료 : 측정모드 및 주요기능 확인
4) 기타 규격 증빙자료 : 평가위원회가 필요하다고 인정하는 자료
6. 입찰보증금과 귀속에 관한 사항
가. 입찰총액의 100분의 5 이상의 금액을 입찰참가신청 마감일시까지 보증보험증권으로 납부 하여야 하며, 입찰보증금의 각서 대체는 허용하지 아니한다.
나. 낙찰자가 정당한 이유 없이 낙찰일로부터 10일 이내에 계약을 체결하지 아니할 때에는 당해 입찰보증금은 본교 산학협력단에 귀속된다.
7. 낙찰자 결정 방법
가. 본 입찰은 규격·가격 동시입찰 방식으로 실시하며, 규격입찰서와 가격입찰서를 동시에 제출받는다.
나. 규격입찰서 평가 결과 과업지시서에서 정한 필수규격을 모두 충족하여 규격 적격자료 확정된 입찰자에 한하여 가격입찰서를 개찰한다.
다. 규격 적격자 중 본교 예정가격 이하 최저가를 제시한 입찰자를 낙찰자로 결정한다.
라. 규격입찰서 평가 결과 부적격자로 판정된 입찰자의 가격입찰서는 개찰 대상에서 제외한다.
마. 동일가격으로 입찰한 자가 2인 이상인 경우 「국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률」 시행령 제47조 및 입찰유의서에서 정한 방법에 따라 낙찰자를 결정한다.
바. 규격평가의 세부기준은 별첨 「규격서 평가기준」 및 「장비 규격서」에 따른다.
8. 입찰의 무효
「국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률」 시행령 제39조제4항 및 동법 시행규칙 제44조에 해당하는 입찰은 무효가 된다.
9. 기타 유의사항
가. 입찰자는 본교의 입찰유의서, 기타 입찰에 필요한 모든 사항에 관하여 완전히 숙지하고 입찰에 응하여야 하며 이를 숙지하지 못한 책임은 입찰자에게 있다.
나. 입찰절차 및 계약 업무에 관한 모든 사항은 본교 「계약에 관한 규정」과 「국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률」에 따른다.
다. 무상보증기간은 본교 산학협력단의 사용자 검수 완료일로부터 적용하며 사용자 검수가 미완료된 상태에서 주요 기자재가 파손 또는 분실될 경우 본교 산학협력단은 책임지지 아니한다.
라. 적합한 업체가 없을 경우 선정하지 아니할 수 있으며 필요할 경우 타 업체를 대상으로 추가 입찰 공고를 할 수 있다.
마. 입찰 결과에 대하여 일체의 이의를 제기할 수 없다.
바. 산출내역서 작성 시 장비의 조립 및 설치비 모두를 포함하여 작성하여야 한다.
사. 기타 입찰과 관련된 자세한 사항은 경영지원팀 문혜련 직원(02-970-5806)에게 문의하시기 바랍니다.
2026.09.03. 서울여자대학교 산학협력단장 규격서 평가기준
○ 사업명: 전기화학 주사탐침 현미경 장비 임차
○ 입찰방법: 제한경쟁입찰, 규격·가격 동시입찰
○ 평가방법: 규격 적격·부적격 평가 1. 평가방법
가. 본 평가표는 「국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률」에 따른 규격·가격 동시입찰의 규격입찰서 평가를 위한 기준으로 한다.
나. 평가대상 장비가 과업지시서에서 정한 필수 요구규격을 모두 충족하는지 여부를 확인한다.
다. 각 평가항목은 다음과 같이 판정한다. 1) 적격(○): 요구규격을 충족함 2) 부적격(X): 요구규격을 충족하지 못함
3) 확인불가: 제출자료만으로 충족 여부를 확인할 수 없음
라. 필수규격 중 하나라도 부적격 또는 확인불가인 경우에는 규격 부적격으로 판정한다.
마. 규격평가 결과 적격자로 확정된 입찰자에 한하여 가격입찰서를 개찰한다.
바. 규격평가는 가격과 분리하여 실시한다.
2. 규격 평가기준: 과업지시서의 요구규격을 기준으로 하며, 특정 제조사 또는 특정 모델과의 동일 여부를 평가하지 않는다.
연번 평가항목 요구규격 1
Large Stage Sample Loading
직경 210mm, 대면적 시료를 바로 장착하여 비파괴 상태로 측정 가능
2 Tip Scanning Stage 방식
시료의 크기 및 무게가 측정 결과에 영향을 주지 않는 방식
3 X-Y Scan Range
90 µm x 90 µm typical, 85µm minimum 이상
Z Range
10 µm typical in imaging and force curve modes, 9.5µm minimum 이상
4 Vertical Noise Floor 30pm RMS 이하
(in appropriate environment typical imaging bandwidth(up to 625Hz))
5 Sample Size/Holder
210mm vacuum chuck for samples, 210mm diameter, 15mm thick 이상
6 Motorized Position Stage (X-Y axis)
210mm × 210mm inspectable area;
2 µm repeatability, unidirectional;
3 µm repeatability, bidirectional;
7 Microscope Optics
5-megapixel digital camera;
180 µm to 1465 µm viewing area;
Digital zoom and motorized focus
1.6 μm 또는 이상 8
Nanomechanical Property Mapping Fage
1 MPa~70 GPa 영역 측정 9 Dark Lift
시료가 빛에 영향을 받아 정밀한 측정이 어려운 경우 시료에 빛을 사용하지 않고 정밀한 전기적 특성 측정
10 Measurement Mode Contact mode 지원
Lateral Force Microscopy (LFM) 지원
Force Spectroscopy지원
Force Volume Mapping (with linear ramps)지원
Tapping mode with Phase Imaging 지원
Magnetic Force Microscopy (MFM) 지원
Electric Force Microscopy (EFM) 지원
Kelvin Prove Force Microscopy (KPFM) in single pass and dual pass 지원
Piezoresponse Force Microscopy (PFM) 지원
Liftmode 지원
===== 입찰공고문.pdf =====
입 찰 공 고
1. 입찰에 부치는 사항
가. 입찰명: 전기화학 주사탐침 현미경 장비 임차
나. 계약기간: 2026년 10월 15일부터 2027년 2월 28일까지(약5개월)
다. 사업예산: 금99,000,000원(부가세, 설치비 포함)
라. 입찰방법: 제한경쟁입찰, 규격·가격 동시
(제시한 입찰참가자격을 갖춘 업체 중 규격을 충족하고 예정가격 이하 최저가를
제시한 업체 낙찰)
마. 임차 품목 및 수량: 전기화학 주사탐침 현미경 장비, 1대
* 세부사항은 과업지시서 참고
2. 입찰일정
구분
일시 장소 비고 입찰참가신청서 제출 및 투찰 마감 2026.09.16.(수) 10:00 나라장터 전자입찰 입찰(개찰) 2026.09.18.(금) 11:00 나라장터 전자입찰
※ 가격입찰 서류 접수는 나라장터(https://www.g2b.go.kr/) 사이트를 통해 제출하되 규격입찰서 및 규격증빙 서류는
본교 산학협력단 입찰·계약담당자 이메일([email protected])로도 제출하여야 함
3. 입찰참가자격
가. 「국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률」 시행령 제12조 및 동법 시행규칙 제14조에
의한 경쟁입찰자격을 갖춘 자
나. 과거 본교와의 계약 수행에 있어서 부정당업체로 지정된 이력이 없는 업체
다. 입찰공고일 전일부터 입찰일(낙찰자의 경우 계약체결일)까지 주된 영업소 소재지가 서울
및 경기도에 있는 업체(필수)
라. 공고일 기준 2년 내 장비 임차 또는 판매 실적 3천만 원 이상인 업체
마. 제조사 물품공급 확약서(정품공급확약서) 또는 기술지원 확약서 첨부가 가능한 업체
바. 입찰공고일 현재 청산·합병·매각 등 정리절차 중이거나 계획 중인 업체 및 법원에 화의
또는 법정관리를 신청 중인 업체는 입찰에 참가할 수 없음
4. 입찰참가신청서류: 사본인 경우 원본대조필인 要
가. 입찰참가신청서
나. 사업자등록증 사본
다. 법인등기부등본(법인인 경우), 주민등록등본(개인인 경우)
라. 인감증명서, 사용인감계(사용인감 지참)
마. 입찰보증보험증권
바. 국세 및 지방세 완납증명서
사. 실적증명서
아. 견적서(산출내역서)
자. 정품공급확인서 / 기술지원확약서 / 제조사증명서
5. 규격확인서류: 사본인 경우 원본대조필인 要
가. 입찰자는 각 평가항목에 대하여 요구규격 충족 여부를 확인할 수 있는 자료를 제출하여야
한다.
나. 제출 자료: 해당 장비의 제조사, 모델명 및 요구규격에 대응하는 사양을 명확히 표시
1) 장비 규격서 : 과업지시서 요구규격과 입찰 장비 규격의 일치 여부
2) 제조사 공식 사양서 또는 카탈로그 : 정량적 요구규격 및 기능 확인
3) 장비 매뉴얼 등 기술자료 : 측정모드 및 주요기능 확인
4) 기타 규격 증빙자료 : 평가위원회가 필요하다고 인정하는 자료
6. 입찰보증금과 귀속에 관한 사항
가. 입찰총액의 100분의 5 이상의 금액을 입찰참가신청 마감일시까지 보증보험증권으로 납부
하여야 하며, 입찰보증금의 각서 대체는 허용하지 아니한다.
나. 낙찰자가 정당한 이유 없이 낙찰일로부터 10일 이내에 계약을 체결하지 아니할 때에는
당해 입찰보증금은 본교 산학협력단에 귀속된다.
7. 낙찰자 결정 방법
가. 본 입찰은 규격·가격 동시입찰 방식으로 실시하며, 규격입찰서와 가격입찰서를 동시에
제출받는다.
나. 규격입찰서 평가 결과 과업지시서에서 정한 필수규격을 모두 충족하여 규격 적격자료
확정된 입찰자에 한하여 가격입찰서를 개찰한다.
다. 규격 적격자 중 본교 예정가격 이하 최저가를 제시한 입찰자를 낙찰자로 결정한다.
라. 규격입찰서 평가 결과 부적격자로 판정된 입찰자의 가격입찰서는 개찰 대상에서 제외한다.
마. 동일가격으로 입찰한 자가 2인 이상인 경우 「국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률」
시행령 제47조 및 입찰유의서에서 정한 방법에 따라 낙찰자를 결정한다.
바. 규격평가의 세부기준은 별첨 「규격서 평가기준」 및 「장비 규격서」에 따른다.
8. 입찰의 무효
「국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률」 시행령 제39조제4항 및 동법 시행규칙 제44조에
해당하는 입찰은 무효가 된다.
9. 기타 유의사항
가. 입찰자는 본교의 입찰유의서, 기타 입찰에 필요한 모든 사항에 관하여 완전히 숙지하고
입찰에 응하여야 하며 이를 숙지하지 못한 책임은 입찰자에게 있다.
나. 입찰절차 및 계약 업무에 관한 모든 사항은 본교 「계약에 관한 규정」과 「국가를
당사자로 하는 계약에 관한 법률」에 따른다.
다. 무상보증기간은 본교 산학협력단의 사용자 검수 완료일로부터 적용하며 사용자 검수가
미완료된 상태에서 주요 기자재가 파손 또는 분실될 경우 본교 산학협력단은 책임지지
아니한다.
라. 적합한 업체가 없을 경우 선정하지 아니할 수 있으며 필요할 경우 타 업체를 대상으로
추가 입찰 공고를 할 수 있다.
마. 입찰 결과에 대하여 일체의 이의를 제기할 수 없다.
바. 산출내역서 작성 시 장비의 조립 및 설치비 모두를 포함하여 작성하여야 한다.
사. 기타 입찰과 관련된 자세한 사항은 경영지원팀 문혜련 직원(02-970-5806)에게 문의하시기
바랍니다.
2026.09.03.
서울여자대학교 산학협력단장
규격서 평가기준
○ 사업명: 전기화학 주사탐침 현미경 장비 임차
○ 입찰방법: 제한경쟁입찰, 규격·가격 동시입찰
○ 평가방법: 규격 적격·부적격 평가
1. 평가방법
가. 본 평가표는 「국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률」에 따른 규격·가격 동시입찰의
규격입찰서 평가를 위한 기준으로 한다.
나. 평가대상 장비가 과업지시서에서 정한 필수 요구규격을 모두 충족하는지 여부를 확인한다.
다. 각 평가항목은 다음과 같이 판정한다.
1) 적격(○): 요구규격을 충족함
2) 부적격(X): 요구규격을 충족하지 못함
3) 확인불가: 제출자료만으로 충족 여부를 확인할 수 없음
라. 필수규격 중 하나라도 부적격 또는 확인불가인 경우에는 규격 부적격으로 판정한다.
마. 규격평가 결과 적격자로 확정된 입찰자에 한하여 가격입찰서를 개찰한다.
바. 규격평가는 가격과 분리하여 실시한다.
2. 규격 평가기준: 과업지시서의 요구규격을 기준으로 하며, 특정 제조사 또는 특정 모델과의 동
일 여부를 평가하지 않는다.
연번
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10 평가항목 요구규격
Large Stage Sample Loading
Tip Scanning Stage 방식
X-Y Scan Range
Z Range
직경 210mm, 대면적 시료를 바로 장착하여 비파괴 상태로 측정 가능
시료의 크기 및 무게가 측정 결과에 영향을 주지 않는 방식
90 µm x 90 µm typical, 85µm minimum 이상
10 µm typical in imaging and force curve modes, 9.5µm minimum 이상
30pm RMS 이하
Vertical Noise Floor
(in appropriate environment typical imaging bandwidth(up to 625Hz))
Sample Size/Holder
210mm vacuum chuck for samples, 210mm diameter, 15mm thick 이상
210mm × 210mm inspectable area;
Motorized Position Stage
2 µm repeatability, unidirectional;
(X-Y axis)
3 µm repeatability, bidirectional;
5-megapixel digital camera;
180 µm to 1465 µm viewing area;
Microscope Optics
Digital zoom and motorized focus
1.6 μm 또 는 이 상
Nanomechanical Property Mapping Fage 1 MPa~70 GPa 영역 측정
시료가 빛에 영향을 받아 정밀한 측정이 어려운 경우 시료에 빛을
Dark Lift
사용하지 않고 정밀한 전기적 특성 측정
Contact mode 지원
Lateral Force Microscopy (LFM) 지원
Force Spectroscopy지원
Force Volume Mapping (with linear ramps)지원
Tapping mode with Phase Imaging 지원
Measurement Mode
Magnetic Force Microscopy (MFM) 지원
Electric Force Microscopy (EFM) 지원
Kelvin Prove Force Microscopy (KPFM) in single pass and dual pass 지원
Piezoresponse Force Microscopy (PFM) 지원
Liftmode 지원
===== 입찰유의서.pdf =====
입 찰 유 의 서
제1조 (목적) 이 유의서는 서울여자대학교 산학협력단(이하 “발주기관”이라 한다)가 행하는 계
약 및 입찰에 있어 참가하고자 하는 자가 유의하여야 할 사항을 정함을 목적으로 한다.
제2조 (용어의 정리) 이 유의서에서 사용하는 용어의 정의는 이 유의서에서 따로 정하는 경우를
제외하고는 본교 계약에 관한 규정, 국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률시행령, 국가를 당
사자로 하는 계약에 관한 법률시행규칙, 특정조달을 위한 국가를 당사자로 하는 계약에 관한
법률시행령 특례규정(이하 각 “본 대학규정”, “시행령”, “시행규칙”, “특례조정”이라
한다) 및 회계예규에 정하는 바에 의한다.
제3조 (입찰참가신청) 입찰에 참가하고자 하는 자는 입찰공고에 기재된 입찰참가신청마감일까지
발주기관이 공고한 방법에 의하여 신청하여야 한다.
제4조 (입찰에 관한 서류) 입찰에 참가하고자 하는 자는 다음 각호의 서류(이하 “입찰에 관한
서류”라 한다)를 열람할 수 있다.
1. 입찰공고문 또는 입찰참가통지서
2. 입찰유의서
3. 입찰참가신청서(소정서식)
4. 제안요청서
5. 기타 참고사항을 기재한 서류
제5조 (관게법령등의 숙지) ① 입찰에 참가하고자 하는 자는 본교 규정, 시행령 등의 입찰 관련
법령 및 제4조제1항의 규정에 의한 입찰에 관한 서류를 입찰 전에 완전히 숙지하여야 하며 이
를 숙지하지 못한 책임은 입찰참가자에게 있다.
② 입찰에 참가하고자 하는 자는 제1항의 규정에 의한 입찰에 관한 서류의 검토과정에서 발견
한 입찰에 관한 서류상의 차고, 누락사항 또는 기타 설명이 요구되는 사항에 대하여는 입찰서
제출마감일 전일까지 발주기관에 그 설명을 요구할 수 있다.
제6조 (입찰보증금) ① 입찰에 참가하고자 하는 자는 입찰참가신청 마감일(공휴일인 때에는 전
일)까지 입찰금액의 100분의 5이상에 상당하는 입찰보증금을 시행령 제37조제2항에 규정된 보
증서 등으로 발주기관에 납부하여야 한다.
② 낙찰자가 소정의 기한 내에 계약을 체결하지 아니할 때에는 당해 입찰보증금은 본교 산학
협력단에 귀속한다.
③ 보증서 등에 의한 입찰보증금의 보증기간은 입찰서 제출마감일 이전부터 입찰서 제출마감
일 30일 이후까지로 한다.
제7조 (입찰참가) ① 입찰참가신청을 한 자가 아니면 입찰에 참가할 수 없다.
② 입찰참가신청서 제출 시 대리인을 지정한 겨웅에는 그 대리인도 입찰에 참가할 수 있다.
③ 시행령 제76조의 규정에 의한 부정당업자로 입찰참가자격을 제한 받고 있는 자는 제2항의
규정에 의한 대리인으로 할 수 없다.
제8조 (입찰서의 작성) ① 입찰서는 소정의 서식에 의하여 작성하여야 하며, 입찰금액은 총액을
표기하여야 한다.
② 입찰서에 사용하는 인감(외국인에 대하여 서명을 허용한 경우에는 서명을 포함한다. 이하
- 1 -
같다)은 입찰참가신청서 제출 시 신고한 인감으로 하여야 한다.
③ 입찰서의 기재사항 중 말소 또는 정정한 곳이 있을 때에는 입찰에 사용하는 인감으로 날인
하여야 한다.
④ 입찰서는 입찰공고 또는 입찰참가통지서 등에 별도로 규정한 경우를 제외하고는 한글을 작
성하여야 하고 입찰금액의 통화는 원화로 하여야 한다.
⑤ 입찰서의 금액표시는 한글 또는 한자로 기재하여야 하며 아라비아 숫자를 병기할 수 있다.
이 경우 아라비아 숫자로 병기한 금액이 한글 또는 한자로 기재된 금액과 차이가 있을 때에는
한글 또는 한자로 기재한 금액에 의한다. 다만, 전산서식에 의한 입찰의 경우에는 지정된 표기
방법으로 기재하여야 한다.
제9조 (입찰서의 제출 등) ① 우편에 의한 입찰서류 제출이 언급된 때에는, 입찰공고 시 별도의
사항이 기재되어 있지 않은 경우, 입찰서 제출마감일까지 발주기관에 도착된 것에 한하여 효
력이 있다. 이 경우 우송 중의 분실, 훼손 또는 지연에 대하여 발주기관은 책임을 지지 아니한
다.
② 입찰자는 제출한 입찰서를 교환·변경 또는 취소할 수 없다. 다만, 입찰서에 기재한 중요한
부분에 오기가 있음을 이유로 개찰상황에서 입찰자가 입찰의 취소의사를 표시한 것으로서 발
주기관이 이를 인정하는 경우에는 취소가 가능하다.
제10조 (경쟁입찰의 성립) 경쟁입찰은 2인 이상의 유효한 입찰로써 성립한다.
제11조 (입찰의 무효) 다음 각 호 1에 해당하는 입찰은 무효로 한다.
1. 입찰참가자격이 없는 자가 한 입찰
2. 대리권이 없는 자가 한 입찰
3. 소정일시까지 소정의 입찰보증금을 납부하지 아니하고 한 입찰
4. 입찰서가 소정일시까지 소정장소에 도착하지 아니하고 한 입찰
5. 입찰서의 입찰금액 등 중요한 사항이 불분명하거나 정정한 후 정정 날인을 누락한 입찰
6. 담합하거나 타인의 경쟁참가를 방해 또는 관계 담당자의 공무집행을 방해한 자의 입찰
7. 입찰서에 기재한 중요 부분에 착오가 있음을 이유로 개찰현장에서 입찰자가 입찰의 취소의
사를 표시한 것으로써 계약담당자가 이를 인정한 입찰
제12조 (입찰의 연기) ① 발주기관은 다음 각 호의 경우 입찰공고 또는 입찰참가통지서에 기재
된 입찰서 제출마감일시를 연기할 수 있다.
1. 제5조제2항의 규정에 의한 설명 요구사항의 내용이 중대하여 연기가 불가피하다고 판단되
는 경우
2. 기타 불가피한 사유로 인하여 지정된 일시에 입찰 또는 개찰을 실시하지 못한 경우
제13조 (재입찰 및 재공고입찰) ① 계약담당자는 경쟁입찰에 있어서 2인 이상의 유효한 입찰자
가 없거나 낙찰자가 없는 경우에는 같은 장소에서 다시 입찰에 부칠 수 있다. 이 경우 입찰자
또는 입찰회수의 제한을 받지 아니한다.
② 입찰자나 낙찰자가 없는 경우 또는 낙찰자가 계약을 체결하지 아니하는 경우에는 재공고입
찰에 부칠 수 있다.
제14조 (가격경쟁에 의한 낙찰자의 결정) ① 제12조 각호의1에 해당하는 사유가 없는 자로서 시
행령 제42조 등에서 정한 낙찰자 결정기준에 적합한 자를 낙찰자로 한다.
② 계약담당자는 개찰된 입찰서를 확인하고 유효한 입찰서의 입찰금액과 예정가격을 대조하여
적격자를 낙찰자로 선정하여야 한다. 다만, 시행령 제42조제1항 단서의 규정에 의하여 계약이
행능력을 심사하여 낙찰자를 선정하는 등 낙찰자 결정에 장시간이 소요되는 경우에는 그러하
- 2 -
지 아니할 수 있다.
③ 전자입찰의 경우 낙찰이 될 수 있는 동일가격으로 입찰한 자가 2인 이상인 때에는 전자입
찰 동가입찰 낙찰자 자동 프로그램을 사용하여 낙찰자를 결정한다.
제15조 (계약의 체결) ① 낙찰자는 발주기관으로부터 낙찰통지를 받은 후 10일 이내에 소정의
서식에 의한 계약서에 의하여 계약을 체결하여야 하고 그 낙찰금액에 대한 산출내역서를 착수
신고서 제출 시까지 계약담당자에게 제출하여야 한다.
② 제1항의 규정에 의하여 발주기관의 계약을 체결하고자 하는 자는 관게법령의 규정에 의하
여 필요한 관계서류를 계약담당자에게 제출하여야 한다.
③ 계약담당자는 낙찰자가 정당한 이유 없이 제1항의 규정에 의하여 계약을 체결하지 아니하
는 때에는 낙찰을 취소할 수 있다.
제16조 (계약의 성립) 계약은 계약서를 작성하고 발주기관의 장과 낙찰자가 기명·날인(외국인에
대하여 서명을 허용한 경우에는 서명을 포함한다)함으로써 확정한다.
제17조 (부정당업자의 입찰참가자격제한) 입찰자 또는 낙찰자가 시행령 제76조의 규정에 해당하
는 경우에는 일정기간 동안의 발주기관으로부터 입찰참가자격 제한조치를 받는다. 지방자치단
체 또는 정부투자기관에서 부정당업자로 제재 받은 사실이 있는 자에 대하여는 시행령 제76조
제9항에 정한 바에 따른다.
제18조 (비밀유지의 의무) 입찰자는 발주기관으로부터 배부 받은 입찰에 관한 서류 또는 각종
자료 및 입찰과정에서 얻은 정보를 당해 입찰 외의 목적으로 사용하여서는 아니된다.
제19조 (기타사항) 입찰공고조건 및 이 유의서에 명시되지 아니한 기타의 사항에 대하여는 발주
기관에서 정하는 바에 의한다.
- 3 -
===== 과업지시서.pdf =====
과 업지 시 서
사업명 전기화학 주사탐침 현미경 장비 임차 2026. 08.
1. 개요
가. 과 업 명: 전기화학 주사탐침 현미경 장비 임차
나. 과업기간: 2026.10.15. ~ 2027.02.28.(약5개월)
다. 과업예산: 금99,000,000원(금구천구백만원정)(부가세 포함)
라. 장비 개요
장비명(임차)
전기화학 주사탐침 현미경
임차기간
2026.10.15. ~ 2027.02.28.
(약 5개월)
수량
1
(set)
금액(부가세 포함)
99,000천원
마. 임차장소: 서울여자대학교 제1과학관 제304호(전기분석화학 실험실)
2. 용도
전기화학 주사탐침 현미경의 임차 목적은 나노소재(Nanomaterials) 및 나노소재
기반의 소자(Nanomaterials-based electronic devices)의 표면의 결정구조, 미세조직,
상 변화를 측정하고, 기계적, 물리적 및 전기적 특성을 평가하는 것을 목표로 한다.
세부 용도는 다음과 같다.
가. 탄소나노튜브 정렬 확인: 탄소나노튜브는 수 나노미터의 직경과 길이를 가지는
탄소 기반 나노물질로, 다양한 연구분야에 사용되는 나노물질이다. 탄소나노튜브
기반의 소자의 표면 거칠기 또는 고정된 작용기에 대한 형태를 전기화학
주사탐침 현미경으로 측정하고자 한다. 이때, 탄소나노튜브 표면에 고정된
다양한
바이오물질(Biomaterials: DNA, proteins, enzyme, antibody etc.)을
직접적으로 손상 없이 측정하는 것이 주요 용도이다.
나. 바이오물질간 상호작용 측정: 단백질-단백질 상호작용 또는 DNA 압타머와 타깃
사이의 상호작용 등 다양한 수용체-타깃 간의 상호작용을 측정하는 것이 주요
용도이다. 이때, 주사탐침 현미경의 탐침에 수용체 또는 특정 단백질을 고정하고,
기판에 상대물질을 고정하여 다양한 방향성에서의 상호작용(힘)을 측정하여,
수용체(또는 단백질)의 방향성에 따른 상호작용(힘)을 측정하고자 한다.
다. 반도체 소자의 전기적 특성 평가: 전기화학 주사탐침 현미경은 탐침에 전압(또는
전류)를 인가하며 전류(또는 전압)을 측정할 수 있기 때문에, 나노물질 기반
소자의 전기적 특성을 평가하기에 적합한 장비이다. 탄소나노튜브를 기반으로
만들어진
소자의 전기적 특성을 미시적 관점에서 측정하기 위해, 탐침에
전압(또는 전류)를 인가하며 소자의 전류(또는 전압)을 측정함으로써, 반도체
소자의 물리적 특성을 평가하는데 활용하고자 한다.
3. 과업내용
가. 과업수행자는 계약 체결 후 임차 개시일에 맞춰 장비를 납품·설치하여야 하며,
임차 개시일부터 정상적으로 사용할 수 있도록 하여야 한다.
나. 용역 대금은 임차료(임차 개시 30일 후 전액 일시납)로 지급한다.
다. 납품하는 물품은 서울여자대학교 산학협력단이 지정하는 장소에 정상적으로
운영되도록 설치하여야 하고 물품 설치에 대한 부대비용은 용역수행 업체가
부담하며,
물품 설치 시 제반 안전사고와 관련한 민·형사상 책임 및
납품과정에서 발생되는 일체의 행정적, 기술적 문제 처리는 용역 수행 업체가
책임을 지고 즉시 복구 및 변상 조치한다.
라. 품목 및 규격
품목
전
기
화
학
주
사
탐
침
현
미
경
규격
수량
- Large Stage Sample loading
기본으로 210mm, 직경, 대면적 시료를 바로 장착하여 비파괴 상태로 바로 측정 가능
- Tip Scanning Stage 방식
시료의 크기 및 무게에 측정 결과가 전혀 영향을 받지 않는 방식의 원자힘현미경 장비
- X-Y scan range : 90 µm x 90 µm typical, 85µm minimum 이상
- Z range : 10 µm typical in imaging and force curve modes, 9.5µm minimum 이상
- Vertical noise floor : <30pm RMS 이하(in appropriate environment typical imaging bandwidth(up to 625Hz))
- Sample size/holder : 210mm vacuum chuck for samples, 210mm diameter, 15mm thick 이상
- Motorized position stage (X-Y axis)
210mm × 210mm inspectable area;
2 µm repeatability, unidirectional;
3 µm repeatability, bidirectional;
- Microscope optics
5-megapixel digital camera;
180 µm to 1465 µm viewing area;
Digital zoom and motorized focus
1
1.6 μm optical resolution 또는 이상
- Nanomechanical Property Mapping Range : 1 MPa~70 GPa 영역 측정
- Dark Lift 기술
시료가 빛에 영향을 받아 정밀한 측정이 어려운 경우 시료에 빛을 사용하지 않고 정밀한 전기적 특성 측정
- Measurement Mode
Contact mode
Lateral Force Microscopy (LFM)
Force Spectroscopy
Force Volume Mapping (with linear ramps)
Tapping mode with Phase Imaging
Magnetic Force Microscopy (MFM)
Electric Force Microscopy (EFM)
Kelvin Prove Force Microscopy (KPFM) in single pass and dual pass
Piezoresponse Force Microscopy (PFM)
Liftmode
※ 참고 모델명: Dimension Icon
4. 계약 종료
가. 본 용역의 종료는 임차기간이 완료된 시점에 물품은 반납하면서 종료하기로
한다.
나. 발주처의 사정에 따라 물품 반납의 시일이 지연되더라도 업체와 협의를 통해
반납일을 조정할 수 있다.
5. 기타사항
가. 본 과업지시서에 명시되지 않은 사항이라도 필요하다고 인정되는 중요사항은
관련 법령과 서울여자대학교 규정에 따라 발주처와 협의하여 결정하여야 한다.
나. 단순 장비 반입 여부가 아니라 장비의 설치 및 정상 작동 여부, 주요 요구사항
충족 여부 및 시험 측정을 확인하여 검수한다.
===== 입찰참가신청서, 청렴이행 서약서, 개인정보 수집·제공 및 활용 동의서.hwp =====
[별지 제3호서식]
입 찰 참 가 신 청 서
※아래사항중 해당되는 경우에만 기재하시기 바랍니다.
처리기간
즉
시
신 청 인 상호 또는 법인명칭 법인등록번호
주
소
전 화 번 호
대
표
자
주민등록번호 입 찰 개 요 입찰공고(지명) 번호 입 찰 일 자
입
찰
건
명
전기화학 주사탐침 현미경 장비 임차 입 찰 보 증 금
납
부
․ 보증금율 : 입찰금액의 5% 이상
․ 보 증 액 : 금
원정(￦
)
․ 보증금 납부방법 : 이행(입찰)보증보험증권
납
부
면
제 및
지
급
확
약
․ 사유 :
․ 본인은 낙찰 후 계약미체결 시 귀 대학에 낙찰 금액에 해당되는 소정의
입찰보증금을 현금으로 납부할 것을 확약합니다.
대 리 인 ․ 사 용 인 감
본 입찰에 관한 일체의 권한을 다음의 자에게 위임합니다.
성
명 :
주민등록번호 :
본 입찰에 사용할 인감을 다음과 같이 신고합니다.
사용인감
본인은 위의 번호로 공고한 귀 기관의 일반(제한․지명)경쟁입찰에 참가하고자 귀 기관에서 정한 공사(물품구매․기술용역)입찰 유의서 및 입찰공고사항을 모두 승낙하고 별첨서류를 첨부하여 입찰참가신청을 합니다.
붙임서류 : 1. 사업자등록증 2. 법인등기부등본 3. 인감증명서 및 사용인감계 4. 이행(입찰)보증보험증권 5. 국세 및 지방세 완납증명서 6. 납품 실적 증명서 7. 견적서(산출내역서)
8. 청렴 이행 서약서, 개인정보 수집제공 및 활용 동의서
9. 정품공급확인서 / 기술지원확약서 / 제조사증명서
11. (대리인 제출 시) 신분증, 위임장, 재직증명서, 건강보험자격득실확인서 각1부
2026. 09.
.
신 청 인 : 서울여자대학교 산학협력단장 귀하
세입세출의 현금출납인
성 명 :
유가증권 취급인
성 명 :
청렴 이행 서약서
당사는 깨끗하고 투명한 거래 문화 조성 원칙에 입각하여 서울여자대학교 산학협력단이 시행하는 모든 입찰(공사, 용역, 구매) 및 계약 참여시 다음 사항을 반드시 준수할 것을 서약합니다.
1. 계약가격의 유지, 허위 사실 기재 및 서류 제출, 특정인의 계약을 위한 담합을 하거나 다른 업체와 협정, 결의, 합의하여 계약의 자유경쟁을 부당하게 저해하는 일체의 불공정한 행위를 하지 않겠습니다.
2. 입찰, 계약 등의 업무에 참여하거나 계약 이행과정에서 관련 교직원 및 이해관계자에게 직‧간접적으로 금품‧향응 등의 뇌물이나 부당한 이익(친인척 등에 대한 부정한 취업 제공 포함)을 어떠한 경우에도 제공하지 않겠습니다.
3. 위 사항을 위반한 사실이 드러날 경우 서울여자대학교 산학협력단이 시행하는 입찰의 그 위반사항에 따른 결정에 이의를 제기하지 않겠습니다. (낙찰 대상에서 제외, 계약 해지, 최대 2년간 본교 입찰 참여 불가등)
위 청렴 이행 서약은 신뢰를 바탕으로 한 상호 약속임을 이해하고 모든 사항을 반드시 준수할 것을 서약합니다. 아울러 계약자로 결정될 시, 계약 특수조건으로 포함하여 성실하게 계약내용을 이행할 것이며, 계약 불이행시 입찰참가자격의 제한, 계약해지 등 서울여자대학교 산학협력단의 조치와 관련하여 민‧형사상 이의를 제기하지 않을 것을 서약합니다.
2026년
월
일
* 업 체 명 : * 사업자번호 :
* 대 표 자 :
(인)
서울여자대학교 산학협력단장 귀하 개인(업체)정보 수집·제공 및 활용 동의서
서울여자대학교 산학협력단이 시행하는 모든 입찰(공사,용역,구매) 및 계약 참여를 위하여, 입찰시 제출하는 개인(업체)정보는 아래와 같이 사용됨을 알려드리오니 아래의 내용을 참고하고 동의하여 주시기 바랍니다.
1. 정보 수집 및 이용 목적
가. 입찰 등록 및 계약체결시 신분 확인, 제출서류 진위여부 확인
나. 입찰 및 계약 진행에 필요한 고지서항 전달을 위한 연락처
2. 수집 항목
가. 업체명 및 대표자명, 주소, 사업자번호 및 주민등록번호, 전화번호 등
나. 입찰에 필요한 사항 3. 기타
가. 수집된 정보는, 입찰 및 계약외 목적으로는 일절 사용하지 않습니다.
나. 계약기간 및 분쟁을 대비한 일정기간 보유 후 해당 정보는 파기합니다.
다. 동의를 거부하는 경우, 입찰 참가는 불가능합니다.
당사는 위 사항을 충분히 숙지하였으며, 위 개인(업체)정보의 수집, 제공, 활용에 동의합니다.
2026년
월
일
* 업 체 명 : * 사업자번호 :
* 대 표 자 :
(인)
서울여자대학교 산학협력단장 귀하
===== 제출 서류(규격서 등).hwp =====
【서식1】
“전기화학 주사탐침 현미경 장비 임차”
규
격
제
안
서
2026 년
월
【서식2】 서 약 서
당 사는 “전기화학 주사탐침 현미경 장비 임차”사업의 목적과 그 제안요청서에 제시된 모든 사항을 충분히 검토, 숙지, 인정한 후 본 규격제안서를 제출합니다.
또한, 당사는 규격제안서 제출과 평가에 있어 서울여자대학교 산학협력단의 평가 기준 및 방법을 수용합니다. 평가결과 통보 후 3일 이내에 관련 규정에 따른 이의신청을 할 수 있음을 확인하며, 이의신청 절차를 거쳐 확정된 최종 평가결과에 대해서는 성실히 수용하겠습니다. 아울러 사업자로 선정될 경우 본 규격제안서가 계약서의 일부가 될 것임을 확약합니다.
2026 년
월
업
체
명 :
주
소 :
사업자등록번호 :
대 표 이 사 :
(인)
서울여자대학교산학협력단장 귀하 【서식3-1】 장 비 규 격 제 안 서
※ 아래사항 중 해당되는 경우에만 기재하시기 바랍니다.
신 청 인
상
호
법인등록번호
주
소
전 화 번 호 대 표 자 생 년 월 일 입 찰 개 요 입찰공고번호 입 찰 일 자 입 찰 건 명
본인은 위의 번호로 공고한 경쟁입찰에 참가하며 입찰유의서 및 입찰공고 사항을
모두 승낙하고 별첨서류를 첨부하여 장비규격을 제안 합니다.
※ 붙임서류 1. 규격서 또는 장비 규격대비표 2. 장비 안내서(규격서, 카탈로그 등)
2026년
월
일
신청인 :
(인)
서울여자대학교산학협력단장 귀하 【서식3-2】 장비 규격서 ○ 사업명 : 전기화학 주사탐침 현미경 장비 임차 ○ 업체명 : ○ 제조사 : ○ 모델명 : 연번 요구규격 제안규격 충족여부 증빙자료 (페이지) 비고 ○ X 1
직경 210mm, 대면적 시료를 바로 장착하여 비파괴 상태로 측정 가능
□ □ 2 Tip Scanning Stage 방식 □ □ 3
X-Y Scan Range 90 µm x 90 µm typical,
85µm minimum 이상 □ □ 4
Z Range 10 µm typical in imaging and force curve modes, 9.5µm minimum 이상
□ □ 5
Vertical Noise Floor 30pm RMS 이하(in appropriate environment typical imaging bandwidth(up to 625Hz))
□ □ 6
Sample Size/Holder 210mm vacuum chuck for samples, 210mm diameter, 15mm thick 이상
□ □ 7
Motorized Position Stage (X-Y axis)
210mm × 210mm inspectable area;
2 µm repeatability, unidirectional;
3 µm repeatability, bidirectional;
□ □ □ □ □ □ 8 Microscope Optics
5-megapixel digital camera;
180 µm to 1465 µm viewing area;
Digital zoom and motorized focus
1.6 μm 또는 이상 □ □ □ □ □ □ □ □ 9
Nanomechanical Property Mapping Fage
1 MPa~70 GPa 영역 측정 □ □ 10 Dark Lift
시료가 빛에 영향을 받아 정밀한 측정이 어려운 경우 시료에 빛을 사용하지 않고 정밀한 전기적 특성 측정
□ □ 11 Contact mode 지원 □ □ 12
Lateral Force Microscopy (LFM) 지원
□ □ 13 Force Spectroscopy지원 □ □ 14
Force Volume Mapping (with linear ramps)지원
□ □
상기 제안규격은 당사가 임대하고자 하는 장비의 실제 사양과 일치하며, 제출한 증빙자료를 통해 각 요구규격의 충족 여부를 확인할 수 있음을 확인합니다.
2026년 월 일 업체명 : 대표자 : (인) 【서식4】 회사 일반현황 및 연혁
회
사
명
대 표 자 사 업 분 야
주
소
전 화 번 호 회사설립년도
년
월
해 당 부 문 종 사 기 간
년
월 ~
년
월 현재 ( 년 개월)
주 요 연 혁 【서식5】 기업신용평가 [기업신용등급평가 인증서 이미지 삽입]
* 국가종합전자조달시스템에 조회된 평가 자료로 평가하되, 가장 최근의 신용평가등급으로 평가
(전자신용인증서 첨부)