===== 엘립소미터 공고서 261026.pdf =====
엘립소미터 구매
입찰공고서
주식회사 바커케미칼 코리아
공고일: 2026 년 10 월 26 일
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목차
Ⅰ. 사업 개요
Ⅱ. 입찰 방법
Ⅲ. 제안서 평가
Ⅳ. 가격입찰 및 계약체결
Ⅴ. 제안서 작성요령
Ⅵ. 기타 유의사항
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Ⅰ. 사업 개요
1. 일반사항
과업명
분광타원계 구매 납품기한 2026 년 12 월 31 일 소요예산 136,620,000 원 입찰방법 일반경쟁 / 총액 / 규격가격동시입찰 계약방법 일반경쟁
2. 수요기관 위치
주식회사 바커케미칼코리아
경기도 성남시 분당구 판교역로 231, 3 층 바커케미칼코리아
3. 사업 목적
본 장비는 산업기술국제협력 R&D 사업의 고지향성 NanoLED 기반 CPO 용 PFAS-free 광인터커넥트
핵심 소재 개발 과제 수행을 위한 연구개발장비로 구축한다.
광인터커넥트용 박막 및 광학소재의 두께와 광학상수를 정밀 측정하고, 소재 및 적층구조의 광학적
특성을 분석하기 위한 분광타원계 구축을 목적으로 한다.
4. 주요 내용
구매규격서 참조
Ⅱ. 입찰 방법
1. 입찰 참가자격
1. 국가종합전자조달시스템 입찰참가자격등록규정에 따라 입찰참가자격 등록마감일시까지
나라장터에 아래 물품으로 입찰참가 등록한 자
세부품명: 일립소미터 (엘립소미터)
세부품명번호: 4111533901
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2. 제안 장비에 대하여 제조사 또는 제조사가 인정한 공급경로를 통한 공급이 가능하고, 제조사
공급확약서를 제출할 수 있는 자
3. 국내에서 장비 설치, 사용자 교육 및 기술지원이 가능한 자
4. 입찰공고 및 구매규격서에서 요구하는 제출서류를 기한 내 제출할 수 있는 자
2. 낙찰자 결정 방법
1. 본 입찰은 규격가격동시입찰 방식으로 진행한다.
2. 제출된 제안서 및 증빙자료를 바탕으로 규격 또는 기술평가를 실시하고, 평가 결과 적격자로 선정된
업체에 한하여 가격입찰서를 개찰한다.
3. 규격 적격자 중 예정가격 이하로 입찰한 자 중 최저가격으로 입찰한 자를 낙찰자로 결정한다.
4. 규격 적격자가 2 인 이상인 경우로서 가격개찰 결과 예정가격 이하 입찰자가 없는 경우 규격
적격자를 대상으로 다시 가격입찰을 실시할 수 있다.
5. 가격입찰 결과 동일가격 입찰자가 발생하는 경우에는 나라장터 전자조달시스템의 자동추첨방식에
따른다.
3. 제안서 제출
제출일시
나라장터 입찰공고 참조 제출방법 나라장터 제안서 제출방식에 따름 필수 제출서류 정성제안서
정성제안서에는 최소한 다음 내용을 포함한다.
1. 제안 장비의 제조사 및 모델
2. 구매규격서 요구사항 대비 제안규격
3. 각 요구규격의 충족 여부
4. 제조사 공식 규격자료 및 데이터시트
5. 제조사 공급확약서
6. 설치 및 사용자 교육계획
7. 국내 기술지원 체계 및 기술지원 인력 현황
8. 동일 계열 장비 국내 납품실적 및 증빙
9. 품질 및 하자보증 계획
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Ⅲ. 제안서 평가
1. 평가방법
제안업체가 제출한 제안서와 제조사 기술자료 및 관련 증빙자료를 기준으로 제안 장비의 규격
적합성과 공급·설치·기술지원 능력을 평가한다.
입찰 전에 정한 정성평가기준에 따라 규격제안서를 평가한다.
제안내용 중 객관적인 증빙자료로 확인되지 않는 사항은 평가 시 인정하지 않을 수 있다.
2. 평가위원회 구성
제안서 평가는 관련 분야 전문가 또는 수요기관이 지정한 평가위원으로 구성하여 실시한다.
3. 평가방법 및 배점
나라장터에 등록한 정성평가표에 따른다.
특히 제안 장비에 대하여 다음 성능의 충족 여부 및 기술적 적정성을 평가한다.
측정 방식
회전 보상자와 회전 검광자를 함께 사용하고 Psi 0 도에서 90 도 및 Delta 0 도에서 360 도 범위를 측정할
수 있을 것.
검출 방식
CCD 어레이 방식으로 400 nm 에서 1000 nm 구간에서 190 개 이상의 파장을 동시에 측정할 수 있으며
전체 스펙트럼 측정시간이 5 초 이내일 것.
입사각
65 도, 70 도, 75 도 및 Straight through 90 도 측정을 지원할 것.
측정항목
Psi, Delta 뿐 아니라 Depolarization 및 Mueller Matrix 11 개 요소 이상을 측정할 수 있을 것.
정확도 및 반복정밀도
Straight through 조건에서 Psi 45 도 기준 허용오차 0.1 도 이내, Delta 0 도 기준 허용오차 0.2 도 이내일
것. SiO2 2 nm 박막 측정 기준 반복정밀도 0.01 nm 이하일 것.
자동화
시료 높이에 대한 Z 축 자동 정렬 기능을 제공할 것.
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분석기능
다층막 분석이 가능하며 B-Spline 및 General Oscillator 를 포함한 광학 분석 모델을 제공할 것.
설치조건
장비 본체 설치면적은 약 48 cm x 33 cm 이하일 것.
공급 및 기술지원
제조사 공급확약서를 제출할 것. 국내에서 설치, 사용자 교육 및 기술지원이 가능하고 국내 기술지원
인력을 보유할 것. 동일 계열 장비의 국내 납품실적을 제시할 것.
Ⅳ. 가격입찰 및 계약체결
1. 가격입찰 및 낙찰자 결정
규격평가 결과 적격자로 판정된 업체에 한하여 가격입찰을 개찰한다.
규격 적격자를 대상으로 가격입찰을 개찰하여 예정가격 이하 최저가격으로 입찰한 자를 낙찰자로
결정한다.
가격입찰은 국가종합전자조달시스템 나라장터를 이용한 전자입찰로 진행한다.
2. 계약조건
1. 제안서에 제시된 내용은 계약상대자 선정 이후 계약조건의 일부로 적용될 수 있다.
2. 계약자는 장비의 운송, 반입, 설치, 시운전 및 사용자 교육에 필요한 제반 업무를 수행하여야 한다.
3. 계약자는 구매규격서에 명시된 성능을 충족하는 장비를 납품하여야 한다.
4. 납품된 장비가 계약규격을 충족하지 못하는 경우 계약자는 수요기관이 요구하는 조치를 이행하여야
한다.
5. 장비 설치 후 정상적인 운용이 가능하도록 시운전 및 성능확인을 완료하여야 한다.
Ⅴ. 제안서 작성요령
1. 제안서의 효력
1. 제안서에 기재된 모든 사항은 객관적으로 확인 가능한 자료에 의해 입증되어야 한다.
2. 필요시 수요기관은 제안내용 확인을 위해 추가자료를 요청할 수 있다.
3. 제출된 제조사 규격자료 및 기술자료는 제안내용을 확인하는 근거자료로 사용한다.
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2. 작성지침 및 유의사항
1. 제안서는 요구규격에 대한 충족 여부를 명확하게 확인할 수 있도록 작성한다.
2. 각 요구규격별로 요구규격 / 제안규격 / 충족여부 / 증빙자료명 / 증빙자료 페이지를 표시하는 것을
원칙으로 한다.
3. 성능을 입증할 수 있는 제조사 공식 데이터시트, 카탈로그 또는 기술문서를 제출한다.
4. 제안내용은 명확한 표현을 사용하며 객관적으로 확인할 수 없는 표현은 지양한다.
5. 제안서의 내용과 제출된 증빙자료가 서로 다른 경우 객관적인 제조사 공식자료를 우선하여 규격
적합성을 판단할 수 있다.
3. 제안서 목차 및 작성내용
1. 일반현황
제안업체 일반현황 주요 사업분야 기술지원 조직 2. 사업수행실적 동일 계열 장비 국내 납품실적 발주기관, 장비명, 납품연도, 수량 등 실적증명자료 첨부 3. 장비사양 충족도 구매규격서 요구사항 대비표 제안 장비 상세규격 제조사 공식 규격자료 측정원리 및 광학구성 분석 소프트웨어 기능 4. 납품·설치 및 시운전 계획 장비 공급계획 운송 및 반입 설치 시운전 및 성능확인 -7- 5. 사후관리 계획 국내 기술지원 체계 국내 기술지원 인력 유지보수 방안 부품 공급계획 하자 대응방안 6. 교육훈련 계획 장비 운용교육 분석 소프트웨어 교육 유지보수 관련 교육 7. 기타 제조사 공급확약서 기타 제안내용을 입증하기 위한 자료
Ⅵ. 기타 유의사항
1. 계약 시 유의사항
1. 입찰자는 입찰공고, 구매규격서 및 제안서 평가기준 등을 충분히 숙지한 후 입찰에 참가하여야 한다.
2. 제출자료에서 허위사실이 확인되는 경우 평가 및 계약 과정에서 불이익을 받을 수 있다.
3. 필요시 제안내용 확인을 위한 추가자료 제출을 요구할 수 있다.
2. 납품 및 검수
1. 계약자는 계약된 납품기한 내에 지정장소에 장비를 납품하고 설치하여야 한다.
2. 장비의 모든 구성품은 구매규격서의 요구조건을 충족하여야 한다.
3. 설치 후 수요기관 입회하에 장비의 정상작동 및 성능을 확인한다.
4. 모든 검수는 구매규격서를 기준으로 실시한다.
5. 규격서에 명시된 주요 측정성능, 구성품, 분석기능, 자동화 기능 등의 충족 여부를 검수할 수 있다.
3. 품질 및 하자보증
하자보증기간: 최종 검수 완료일로부터 1 년
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* 단, 낙찰자 선정 이후 양사간 협의를 통해 보증 기간 협의 가능
하자보증기간 중 정상적인 사용 과정에서 장비의 성능 또는 기능상 문제가 발생한 경우 계약자는
기술지원 및 필요한 조치를 실시하여야 한다.
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===== 엘립소미터 규격서.hwpx =====
규격서
세부품명번호 411533901
세부품명 일립소미터 (엘립소미터)
1. 측정 방식: 회전 보상자(Rotating Compensator)와 회전 검광자를 함께 사용하여 Ψ(0~90°)와 Δ(0~360°) 전 범위 측정
2. 검출 방식: CCD 어레이로400~1000nm 구간190개 이상 파장 동시 측정, 풀 스펙트럼 측정5초 이내
3. 입사각: 65°, 70°, 75° 및90°(Straight-through) 측정 가능
4. 측정 항목: Ψ, Δ 외Depolarization 및Mueller Matrix 11개 요소 이상 측정
5. 정확도: Straight-through 기준 Ψ=45°±0.1°, Δ=0°±0.2°, 반복정밀도0.01nm 이하(SiO2 2nm 박막 기준)
6. 자동화: 샘플 높이(Z축) 자동 정렬
7. 분석 기능: 다층막 분석, B-Spline 및General Oscillator 등 분석 모델 제공
8. 설치 공간: 본체 설치 면적 약48cm ×33cm 이하
9. 기타 조건: 제조사 공급확약서 제출, 국내 공급사의 설치·교육 및 기술지원(국내 기술지원 인력 보유), 동일 계열 장비 국내 납품 실적